II Krajowa Konferencja Metrologii (KKM 2025) – nasz udział w wydarzeniu poświęconym przyszłości metrologii

W dniach 26–29 maja 2025 r. w Waplewie odbyła się druga edycja Krajowej Konferencji Metrologii (KKM 2025) – jedno z najważniejszych wydarzeń naukowych w Polsce, poświęconych nowoczesnym trendom i technologiom w dziedzinie metrologii.

Motywem przewodnim tegorocznej konferencji było zastosowanie metod sztucznej inteligencji (AI) w metrologii – od implementacji, przez analizę danych pomiarowych, aż po perspektywy rozwoju tej dynamicznie zmieniającej się dziedziny.

Z dumą informujemy, że w konferencji uczestniczył Maurycy Maziuk, doktorant naszego Zespołu, który aktywnie włączył się w naukową dyskusję, prezentując autorskie badania.

Podczas jednej z sesji tematycznych Maurycy Maziuk zaprezentował referat pt.
„Obrazowanie elektroluminescencyjne, podczerwone, elektroluminescencyjne w wybranych kanałach spektralnych oraz inspekcja wizualna – porównanie”. Wystąpienie dotyczyło innowacyjnej procedury pomiarowej oraz nowej metody obrazowania defektów z wykorzystaniem kanałów spektralnych, co wpisuje się w najnowsze trendy wykorzystania AI i technik obrazowania w diagnostyce materiałów.

Referat spotkał się z dużym zainteresowaniem uczestników konferencji. Szczególne uznanie zyskała analiza porównawcza różnych technik obrazowania, a towarzyszące prezentacji dyskusje podkreśliły kluczową rolę sztucznej inteligencji w rozwoju nowoczesnej metrologii.

Udział w KKM 2025 był doskonałą okazją do wymiany doświadczeń, nawiązania nowych kontaktów oraz prezentacji wyników badań naszego zespołu na forum ogólnopolskim.