Zakład dysponuje specjalistyczną aparaturą naukową-badawczą, w tym:

Aparatura technologiczna i procesowa:
- stanowisko do próżniowego nanoszenia cienkich warstw metodą parowania (Balzers),
- stanowisko do próżniowego nanoszenia cienkich warstw metodą IBAD (SHINKU KIKAI KOGYO Co. Ltd.),
- stanowisko do próżniowego nanoszenia cienkich warstw metodą BARE (NP-500),
- stanowisko do próżniowego nanoszenia cienkich warstw metodą rozpylania magnetronowego (NP-500),
- stanowisko do próżniowego nanoszenia cienkich warstw gradientowych metodą rozpylania magnetronowego (opatentowana własna konstrukcja),
- systemy zasilające (Dora Power System - 5; 7; 10; 15kW) wyrzutni magnetronowych: DC, MF (100kHz), pulsed- dc (110kHz),
- piec rurowy Nabertherm temp. max 1100 °C z możliwością wygrzewania próbek w kontrolowanej atmosferze w gazach utleniającej, obojętnych lub redukujących,
- stanowisko do wytwarzania nanoproszków metodą chemiczną,
- komora laminarna do przygotowywania podłoży i próbek do procesów PVD,
- stanowisko do modyfikacji plazmowej podłoży polimerowych w powietrzu,
- stanowisko do wytwarzania powłok cienkowarstwowych metodą spin-coatingu,
- suszarka do wygrzewania nanoproszków i powłok cienkowarstwowych,
- stanowisko do mycia podłoży i szkieł laboratoryjnych.

Aparatura diagnostyczna i badawcza:

- AFM - Nanosurf FlexAFM,
- systemy optycznej spektroskopii emisyjnej OES (300÷800 nm),
- stanowisko do interferencyjnych pomiarów grubości cienkich warstw,
- stanowisko do pomiarów charakterystyk I-V emiterów polowych,
- skaningowe mikroskopy elektronowe: JSM-35 (firmy JEOL) z wyposażeniem do obrazowania 3D, JSM-840 (JEOL) z wyposażeniem do obrazowania 3D w niskiej próżni (dielektryki, obiekty uwodnione),
- stanowisko do badania transmisji, odbicia i absorbancji światła (w zakresie spektralnym 200÷2500 nm) na stole optycznym – 2 spektrofotometry Ocean Optics NIR 256 i QE 65000, źródło światła DH-BAL 2000,
- stanowisko do badania charakterystyk czułości spektralnej i fotoluminescencji (w zakresie spektralnym 200÷1300 nm) na stole optycznym wyposażone w lampę XE 450 i 2 monochromatory Optel,
- charakterograf prądowo-napięciowy ze stacją pomiarową i klatką Faraday’a – Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System, Cascade Microtech M150,
- analizator impedancji – Agilent 4294A,
- stanowisko do badań elektrycznych metodą sondy czteropunktowej oraz do pomiarów metodą Halla – sonda typu JANDEL, Keithley 2611 System SourceMeter,
-stanowisko do prac warsztatowych w zakresie montażu elektronicznego,
- specjalistyczny kriostat azotowo-helowy - komora do badania efektów gazo-, elektro-, termo- i fotochromowych – JANIS Research Co. Inc.,
- komora do badania termicznych właściwości ognioodpornych powłok optycznych,
- stanowisko do badania właściwości termoelektrycznych (wyznaczanie typu przewodnictwa),
- stanowisko do projektowania i analizy powłok optycznych – oprogramowanie FTG FilmStar, Scout,
- stanowisko do badania właściwości antystatycznych wraz z komorą klimatyczną – John Chubb Instrumentation,
- stanowisko do badania struktury geometrycznej powierzchni i grubości powłok optycznych – Taylor Hobson Talysurf CCI Lite,
- optyczny mikroskop transmisyjno-odbiciowy z cyfrowym systemem obrazowania – Olympus BX51,
- stanowisko do badania odporności na zarysowania powłok optycznych – Summers Optical,
- stanowisko do badania zwilżalności powierzchni cienkich warstw – Attension Theta Lite,
- Tester do badania odporności na ścieranie metodą Bayera (wytrząsarka),
- stanowisko do badania aktywności fotokatalitycznej powłok cienkowarstwowych i nanoproszków,
- stanowisko do badania widm absorbancji,
- stanowisko do pomiarów fotokonduktnacyjnych za pomocą zogniskowanej wiązki świetlnej (LBIC),
- system (dydaktyczny) do pomiaru charakterystyk I-V ogniw słonecznych (‘jasnych’) przy zmiennych warunkach natężenia światła i temperatury (~20 – 60 °C, termostat wodny),
- system (badawczy) do pomiaru charakterystyk I-V ogniw słonecznych (‘jasnych’ i ‘ciemnych’) przy zmiennych warunkach natężenia światła i temperatury (~0 – 60 °C, system komórek Peltier); zakres pomiaru napięcia -10 - +10 V prądu ~±1 mA - ±20 A. System wyposażony jest w symulator światła słonecznego klasy A (IEC 60904-9) z możliwością zmian natężenia 1 W/m2 - ~1100 W/m2,
- system (dydaktyczny i badawczy) do pomiarów charakterystyk ‘ciemnych’ ogniw i modułów PV w zakresie ±120 V i ±2.5 A lub ±60 V i ±10 A (min. prąd mierzony ~10-8 A),
- szafa (prod. Steuernagel Lichttechnik) do pomiaru charakterystyk I-V modułów PV o wymiarach do 0.5 – 1 m. Źródło światła – system oświetlaczy halogenowych o mocy ~7,2 kW,
- szafa klimatyczna (wykorzystywana do pomiarów „ciemnych”) z możliwością zmian temperatury w zakresie ~ -40oC - +85oC wyposażona w okablowanie umożliwiające poprawne pomiary ‘ciemnych’ charakterystyk I-V (i ich temperatury) in situ jednocześnie do 10-u modułów PV,
- laminator SPI-Laminator 240 firmy Spire,
- dwa stanowiska do długoterminowego ciągłego testowania modułów PV w warunkach naturalnych oraz stacja meteorologiczna, 
- oprogramowanie do projektowania i modelowania ogniw i modułów PV (Solar Design Studio i BlueSol, SolarFit, EasyFit, SolarSpectrum, IVTranslation.